Zegarra Sierra, K. (2015). Degradación de las propiedades ópticas de películas semiconductoras amorfas de nitruro de silicio a-SiN producidas por pulverización catódica de radiofrecuencia. Pontificia Universidad Católica del Perú.
Citación Chicago StyleZegarra Sierra, Katia. Degradación De Las Propiedades ópticas De Películas Semiconductoras Amorfas De Nitruro De Silicio A-SiN Producidas Por Pulverización Catódica De Radiofrecuencia. Pontificia Universidad Católica del Perú, 2015.
Cita MLAZegarra Sierra, Katia. Degradación De Las Propiedades ópticas De Películas Semiconductoras Amorfas De Nitruro De Silicio A-SiN Producidas Por Pulverización Catódica De Radiofrecuencia. Pontificia Universidad Católica del Perú, 2015.