Cita APA
Conde Mendoza, L. A. (2017). Implementación de un sistema de medición de resistividad eléctrica en películas delgadas semiconductoras por el método de Van der Pauw. Pontificia Universidad Católica del Perú.
Citación Chicago StyleConde Mendoza, Luis Angel. Implementación De Un Sistema De Medición De Resistividad Eléctrica En Películas Delgadas Semiconductoras Por El Método De Van Der Pauw. Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017.
Cita MLAConde Mendoza, Luis Angel. Implementación De Un Sistema De Medición De Resistividad Eléctrica En Películas Delgadas Semiconductoras Por El Método De Van Der Pauw. Pontificia Universidad Católica del Perú, 2017.
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