Cita APA

Choque Aquino, J. I. (2016). Determinación de la topografía superficial de películas delgadas de TiO2 y SiC mediante interferometría tipo Michelson. Pontificia Universidad Católica del Perú.

Citación Chicago Style

Choque Aquino, Jovanetty Iván. Determinación De La Topografía Superficial De Películas Delgadas De TiO2 Y SiC Mediante Interferometría Tipo Michelson. Pontificia Universidad Católica del Perú, 2016.

Cita MLA

Choque Aquino, Jovanetty Iván. Determinación De La Topografía Superficial De Películas Delgadas De TiO2 Y SiC Mediante Interferometría Tipo Michelson. Pontificia Universidad Católica del Perú, 2016.

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