Prototipo experimental para el escaneo de objetos en 3D
En El Salvador no existen equipos capaces de realizar el escaneo en tres dimensiones, sin embargo se cuentan con máquinas que pueden utilizar los datos generados por estos sistemas de escaneo, lo cual lleva a la subutilización de dichas máquinas. Por otro lado, programas como AUTOCAD®, MatLab®, entr...
| Autor Principal: | Rivas Mendoza, Ricardo Elías |
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| Otros Autores: | Contreras Nieto, Edwin Giovanny, Méndez Martínez, Omar Antonio |
| Formato: | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis |
| Idioma: | spa |
| Publicado: |
Universidad Don Bosco
2016
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| Materias: | |
| Acceso en línea: |
Rivas Mendoza, Ricardo Ernesto. Contreras Nieto, Edwin Giovanny. Méndez Martínez, Omar Antonio. (2004). Prototipo experimental para el escaneo de objetos en 3D. (Tesis de Ingeniería no publicada). Universidad Don Bosco, San Salvador, El Salvador CA. |
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| Sumario: |
En El Salvador no existen equipos capaces de realizar el escaneo en tres dimensiones, sin embargo se cuentan con máquinas que pueden utilizar los datos generados por estos sistemas de escaneo, lo cual lleva a la subutilización de dichas máquinas. Por otro lado, programas como AUTOCAD®, MatLab®, entre otros, hacen uso objetos en tres dimensiones, los cuales deben diseñarse directamente en el programa u obtenerse a través de librerías extras. Por todo lo anterior se diseñó un PROTOTIPO EXPERIMENTAL PARA EL ESCANEO DE OBJETOS EN TRES DIMENSIONES capaz de adquirir datos en coordenadas tridimensionales de un objeto, almacenarlos para su posterior utilización. Además el sistema podrá realizar una representación gráfica del objeto escaneado. El sistema consistirá en un sensor de distancia y una plataforma giratoria en donde se colocará el objeto a escanear. El sensor medirá la distancia desde el punto de referencia hacia un punto de la superficie del objeto y se procesará para crear una coordenada tridimensional(x, y, z), que será archivada. Este proceso se repetirá moviendo el objeto y/o el sensor hasta terminar con la secuencia de escaneo. El patrón de escaneo será de circunferencias superpuestas. Luego se procesaran los datos obtenidos para unir todos los puntos, creando así, una superficie que cubra el contorno de las coordenadas tomadas con el escáner, para así obtener una imagen en 3D del objeto. |
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