Structure and Growth of Dotriacontane Films on Sio2 and Ag(111) Surfaces: Synchrotron X-Ray Scattering and Molecular Dynamics Simulations
Autor Principal: | Volkmann, U. |
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Formato: | Artículo |
Publicado: |
2017
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Acceso en línea: |
0031-8965 |
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