Structure and Growth of Dotriacontane Films on Sio2 and Ag(111) Surfaces: Synchrotron X-Ray Scattering and Molecular Dynamics Simulations

Autor Principal: Volkmann, U.
Formato: Artículo
Publicado: 2017
Acceso en línea: 0031-8965
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
Descripción no disponible.