Test de circuitos integrados VLSI y sistemas robustos.
El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS.
| Autor Principal: | Petrashin, Pablo Antonio dir. |
|---|---|
| Formato: | Proyecto de Investigación |
| Idioma: | spa |
| Publicado: |
2016
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: |
http://pa.bibdigital.uccor.edu.ar/999/1/Test%20de%20circuitos%20integrados%20VLSI%20y%20sistemas%20robustos.pdf |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
| Sumario: |
El objetivo general será la búsqueda de arquitecturas circuitales que permitan el fácil testeo del chip, la robusticidad ante daños por radiación y su implementación en tecnologías CMOS. |
|---|