Determinación de las constantes ópticas y el espesor de películas delgadas semiconductoras depositadas por pulverización catódica de radio frecuencia sobre substratos ligeramente abosorbentes en la región visibles

En este trabajo se describe el método de Swanepoel (1983) [1] y el método propuesto por Guerra J A (2010) [2] para caracterizar películas delgadas usando sólo el espectro de transmitancia óptica. La película es caracterizada al quedar determinadas las constantes ópticas y el espesor. Esta tesis pre...

Descripción completa

Autor Principal: Tucto Salinas, Karem Yoli
Formato: Tesis de Licenciatura
Idioma: Español
Publicado: Pontificia Universidad Católica del Perú 2013
Materias:
Acceso en línea: http://tesis.pucp.edu.pe/repositorio/handle/123456789/1714
Etiquetas: Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Ejemplares Similares