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Determination of the optical bandgap of thin amorphous (SiC) 1-x (AIN) x films produced by radio frequency dual magnetron sputtering

Películas delgadas amorfas semiconductoras de amplio ancho de banda del compuesto pseudobinario (SiC)1-x(AlN)x fueron depositadas por pulverización por un sistema de dos magnetrones de radio frecuencia sobre CaF2, MgO, Al2O3 y vidrio. Con el fin de determinar el ancho de banda óptico versus la compo...

Descripción completa

Autor Principal: Guerra Torres, Jorge Andrés
Formato: Tesis de Maestría
Idioma: Inglés
Publicado: Pontificia Universidad Católica del Perú 2016
Materias:
Películas delgadas
Semiconductores amorfos
Semiconductores
Acceso en línea: http://tesis.pucp.edu.pe/repositorio/handle/123456789/7009
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