Síntesis y caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio hidrogenado (AlN:H)
por: Espinoza Monsalve, Sandro Renato
Publicado: (2018)
Síntesis, caracterización estructural y eléctrica de películas de V2O5 .nH2O
V2O5 .nH2O films were characterized structurally, vibrationally, and electrically, as well as synthesized by the method of rapid cooling or quenching. The films submitted to thermal treatment among 100°C and 200°C during 24 hours showed slight variations in the crystal structure with a preferred ori...
Guardado en:
Autor Principal: | Londoño C., César Leandro |
---|---|
Otros Autores: | Hernández J., Carlos Vargas, Jurado, Fabián |
Formato: | info:eu-repo/semantics/article |
Idioma: | spa |
Publicado: |
Universidad de San Buenaventura - Cali
2017
|
Materias: | |
Acceso en línea: |
1794-192X |
Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|
Ejemplares Similares
-
Síntesis y caracterización de películas delgadas de nitruro de aluminio hidrogenado (AlN:H)
por: Espinoza Monsalve, Sandro Renato
Publicado: (2018) -
Estudio de fotoconductividad de película delgada de CuFeO2 tipo delafossite mediante mediciones de resistencia eléctrica.
por: Vojkovic Lagno, Smiljan Andrej
Publicado: (2019) -
Determination of the optical bandgap of thin amorphous (SiC) 1-x (AIN) x films produced by radio frequency dual magnetron sputtering
por: Guerra Torres, Jorge Andrés
Publicado: (2016) -
On the fundamental absorpion of amorphous semiconductors
por: Angulo Abanto, José Rubén
Publicado: (2016) -
Degradación de las propiedades ópticas de películas semiconductoras amorfas de nitruro de silicio a-SiN producidas por pulverización catódica de radiofrecuencia
por: Zegarra Sierra, Katia
Publicado: (2015)