Implementation of a four probes measuring system to determine the resistivity of thin films with temperature dependence
por: Salas Casapino, Carlos Alberto
Publicado: (2017)
Integration of a visual tracking system into a four probe measuring system to evaluate the electrical sheet resistance of thin films
En los últimos años, las películas delgadas han sido ampliamente estudiadas debido a la amplia gama de aplicaciones técnicas que presentan, algunas de las cuales están determinadas por sus propiedades eléctricas tales como la resistividad. Generalmente, algunas propiedades medidas en la macroesca...
| Autor Principal: | Curi Grados, Osmar Giordano Adolfo |
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| Formato: | Tesis de Maestría |
| Idioma: | Inglés |
| Publicado: |
Pontificia Universidad Católica del Perú
2017
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| Materias: | |
| Acceso en línea: |
http://tesis.pucp.edu.pe/repositorio/handle/123456789/8993 |
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