Determinación de la topografía superficial de películas delgadas de TiO2 y SiC mediante interferometría tipo Michelson
por: Choque Aquino, Jovanetty Iván
Publicado: (2016)
Estudio de fotoconductividad de película delgada de CuFeO2 tipo delafossite mediante mediciones de resistencia eléctrica.
Tesis (Magíster en Física mención Física Experimental)--Pontificia Universidad Católica de Chile, 2019
Guardado en:
Autor Principal: | Vojkovic Lagno, Smiljan Andrej |
---|---|
Formato: | Tesis |
Idioma: | Spanish / Castilian |
Publicado: |
2019
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Materias: | |
Acceso en línea: |
https://repositorio.uc.cl/handle/11534/22992 |
Etiquetas: |
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